紫外可見光檢測(cè)器的原理是利用溶質(zhì)分子吸收紫外光或可見光的特性來檢測(cè)和定量分析詳細(xì)說明核心定律紫外可見光檢測(cè)器的工作原理基于LambertBeer定律該定律指出，當(dāng)一束單色光透過流動(dòng)池時(shí)，若流動(dòng)相不吸收光，則吸收度A與吸光組分的濃度C和流動(dòng)池的光徑長(zhǎng)度L成正比，即A=kCL其中k為吸光系數(shù)這一定律為紫外可見光。

光學(xué)測(cè)量?jī)x器主要包括以下幾種自動(dòng)準(zhǔn)直儀利用光的直線傳播性質(zhì)進(jìn)行測(cè)量，常用于建筑工程中檢測(cè)建筑物的垂直度水平度等激光準(zhǔn)直儀同樣利用光的直線傳播性質(zhì)，提供高精度的直線度測(cè)量光學(xué)干涉儀利用光的干涉現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量，具有極高的測(cè)量精度，常用于科學(xué)研究或高精度制造中激光干涉儀與光學(xué)。

一定期排除腐蝕性溶劑和改性劑 每次使用完蒸發(fā)光檢測(cè)器后，務(wù)必排除儀器中的腐蝕性溶劑和包含改性劑的溶劑這些溶劑如果長(zhǎng)時(shí)間留在儀器內(nèi)，可能會(huì)堵塞霧化器，降低儀器的性能二霧化系統(tǒng)維護(hù) 為保證蒸發(fā)光檢測(cè)器的最佳性能，需要定期進(jìn)行霧化系統(tǒng)維護(hù)霧化氣體應(yīng)使用惰性氣體，以避免對(duì)霧化器造成損害。

分光儀用來測(cè)量光線的偏轉(zhuǎn)角折射率等光學(xué)參數(shù)的儀器，常用于光譜分析和光學(xué)元件的檢測(cè)光度計(jì)用來測(cè)量光源發(fā)光強(qiáng)度的儀器，在照明工程顯示技術(shù)等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用激光干涉儀利用激光干涉原理進(jìn)行長(zhǎng)度角度等物理量的高精度測(cè)量，是現(xiàn)代精密測(cè)量技術(shù)的重要組成部分此外，還有其他類型的光學(xué)測(cè)量。

當(dāng)然，并非所有產(chǎn)品都只能用單一的檢測(cè)儀器進(jìn)行測(cè)試?yán)纾夤β视?jì)不僅可以用來測(cè)量光纜的傳輸損耗，還可以用于光纖跳線和尾纖的測(cè)試同樣，OTDR光時(shí)域反射儀可以對(duì)光纜和光纖進(jìn)行鏈路長(zhǎng)度衰減和斷點(diǎn)定位等多方面測(cè)試而光譜分析儀則能夠?qū)饫w跳線尾纖和光纜進(jìn)行光譜特性分析，評(píng)估其色散和非線性。

自動(dòng)準(zhǔn)直儀和激光準(zhǔn)直儀是常見的光學(xué)測(cè)量?jī)x器，它們利用光的直線傳播性質(zhì)進(jìn)行測(cè)量這類儀器常用于建筑工程中，用以檢測(cè)建筑物的垂直度水平度等光學(xué)干涉儀和激光干涉儀則是利用光的干涉現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量這類儀器具有極高的測(cè)量精度，常用于科學(xué)研究或高精度制造中，如測(cè)量光學(xué)表面的反射相移檢測(cè)機(jī)械。

9元析儀器METASH 成立于2008年，國(guó)內(nèi)分光光度計(jì)制造商，專業(yè)從事實(shí)驗(yàn)室科學(xué)儀器研發(fā)生產(chǎn)銷售和服務(wù)的高新技術(shù)企業(yè)，陸續(xù)推出了紫外可見分光光度計(jì)微波消解儀toc總有機(jī)碳分析儀原子吸收分光光度計(jì)等產(chǎn)品，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于生物化學(xué)環(huán)保等諸多領(lǐng)域10尤尼柯UNICO 尤尼柯成立于1995年，是從事。

國(guó)內(nèi)的AOI光學(xué)檢測(cè)儀器市場(chǎng)上，易科訊勁拓神州視覺等品牌都有一定的影響力我們公司目前在使用易科訊的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀器，使用體驗(yàn)相當(dāng)不錯(cuò)，設(shè)備的質(zhì)量也很好，操作簡(jiǎn)便，易于上手據(jù)說勁拓的AOI檢測(cè)設(shè)備也表現(xiàn)不俗，但價(jià)格相對(duì)較高，我們還沒有機(jī)會(huì)體驗(yàn)總體來看，我們公司使用了幾個(gè)國(guó)內(nèi)品牌的。

p光時(shí)域反射儀是一種廣泛應(yīng)用于光纖網(wǎng)絡(luò)維護(hù)和通信領(lǐng)域的儀器，它通過發(fā)送光脈沖并接收其反射信號(hào)，能夠無損地檢測(cè)光纖鏈路的衰減連接器質(zhì)量光纖熔接點(diǎn)損耗等信息一般普通的光時(shí)域反射儀在測(cè)量時(shí)，光纖里有光信號(hào)是不能測(cè)量的，強(qiáng)行帶光測(cè)試會(huì)燒壞OTDR內(nèi)部探測(cè)器，測(cè)試時(shí)通常是去分光箱把光纖拔下來。